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產(chǎn)品分類TECHNICAL ARTICLES
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山田光學(xué)yamada半導(dǎo)體芯片加工光源裝置照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
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山田光學(xué)yamada半導(dǎo)體芯片加工光源裝置照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 特點(diǎn)介紹
高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工
是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
山田光學(xué)yamada半導(dǎo)體芯片加工光源裝置照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 規(guī)格參數(shù)
1、可照亮樣品表面400,000Lx以上。
2、光源采用鹵素?zé)?,色溫高,照度不均小,光線極其穩(wěn)定銳利。
3、采用冷鏡,熱量的影響極大地降低到傳統(tǒng)鋁鏡的1/3。
4、兩級(jí)切換機(jī)構(gòu),一鍵實(shí)現(xiàn)高照度觀察和低照度觀察。
YP-150I 照度范圍:30mmφ
YP-250I 照度范圍:60mmφ
超精密平面檢測(cè)的理想選擇!通過驚人的照明,可以檢測(cè)小于 0.2 μm 的缺陷。
YP-150I"是一種用于顯微觀察的照明裝置,用于檢測(cè)
最終成品表面上的各種缺陷,如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等,是半導(dǎo)體加工過程中勞動(dòng)強(qiáng)度的一種。晶圓和液晶板
另外,由于采用鹵素?zé)糇鳛楣庠?,色溫高?/p>
光照不均勻的情況很少,光照***穩(wěn)定銳利。
姊妹機(jī)“YP-250I"也可用于 8 英寸。
光源采用鹵素?zé)?/p>
■ 可以將樣品表面照射到400,000 Lx或更高
■ 熱量的影響降低到傳統(tǒng)鋁鏡的1/3
■ 高照度觀察和低照度觀察可一鍵切換
請(qǐng)用于超精密平面檢測(cè)!
郵箱:akiyama_zhou@163.com
傳真:
地址:廣東省深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路8號(hào)和健云谷2棟10層1002