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產(chǎn)品展示/ Product display

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日本napson電阻率測試儀半導體/導電薄膜用

日本napson電阻率測試儀半導體/導電薄膜用 EC-80

非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀

  • 產(chǎn)品型號：EC-80
  • 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
  • 更新時間：2024-07-27
  • 訪  問  量：133
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詳細介紹

日本napson電阻率測試儀半導體/導電薄膜用 EC-80 特點介紹


非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀

一種簡單的測量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。

在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換

使用 JOG 旋鈕輕松設(shè)置測量條件

測量目標

半導體能電池材料相關(guān)（硅、多晶硅、SiC等）

新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）

導電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）

化合物半導體相關(guān)（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）


日本napson電阻率測試儀半導體/導電薄膜用 EC-80 規(guī)格參數(shù)


非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀

一種簡單的測量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。

在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換

使用 JOG 旋鈕輕松設(shè)置測量條件

測量目標

半導體能電池材料相關(guān)（硅、多晶硅、SiC等）

新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）

導電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）

化合物半導體相關(guān)（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）

非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀

一種簡單的測量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。

在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換



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