PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類TECHNICAL ARTICLES
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日本YAMADA高輝度檢查燈鹵素光源裝置進(jìn)口 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動等 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。
2024-10-11
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山田光學(xué)yamada半導(dǎo)體芯片加工光源裝置照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-10-11
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533
YAMADA山田光學(xué)鹵素光源裝置檢查燈高亮度 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-10-11
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日本YAMADA山田光學(xué)高亮度光源裝置檢查燈 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-10-11
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日本led-kogen平板照明高亮度高輸出多功能 MVFPH系列 薄而均勻發(fā)射的平板照明。 行業(yè)高標(biāo)準(zhǔn)最大80,000lx@WD100mm 同時實現(xiàn)多達(dá) 3 個波長(R、G、B、白色) 50,000小時長壽命&防水防塵(相當(dāng)于IP67)
2024-10-11
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飯?zhí)飈ed-kogen環(huán)形照明燈高輸出防水防塵 MVRUM8-170100/MVRUM3-6025 ULTRA MULTI 環(huán)形照明 超高輸出&8波長多重&長壽命50,000小時 ULTRA MULTI TOUGH 小環(huán)形照明 超高輸出&3波長多重&長壽命50,000小時,防水防塵IP67
2024-10-11
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日本SanRex露光裝置光源機(jī)器用電源高性能 SANREX/日本 在高密度、高精細(xì)的印刷電路板等利用照相工藝印刷、曝光布線圖案時,也需要高穩(wěn)定、高輸出的光,因此需要高輸出的光源電源。
2024-10-11
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美國dolan-jenner高照度鹵素光源照明器進(jìn)口 Dolan-Jenner/美國 Fiber-Lite Mi-152系列 Fiber-lite Mi-152 是一款 150 瓦 21 伏 EKE 燈,可為各種光纖光導(dǎo)組件提供 350,000 英尺燭光的高強(qiáng)度光,是當(dāng)今市場上用途廣泛的系統(tǒng)之一。 可選的紅外線和彩色濾光片可進(jìn)一步定制光譜,為您的特定應(yīng)用打造的照明選擇。
2024-10-11
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