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日本NCC小型清潔檢查燈可視化灰塵、劃痕等 Quantum 用小但高度直射的光“可視化”灰塵、異物和劃痕！ 檢查燈“Quantum”，現(xiàn)場管理人員的必需品

日本NCC可視化目視清潔檢查燈設備檢測灰塵 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場所的清潔檢查燈，旨在實現(xiàn) 0% 的缺陷率。

日本NCC手持式目視檢查燈檢測異物漂浮狀態(tài) ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場所的清潔檢查燈，旨在實現(xiàn) 0% 的缺陷率。

日本進口NCC顆粒/灰塵高精度目視清潔檢查燈 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場所的清潔檢查燈，旨在實現(xiàn) 0% 的缺陷率。

日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動 AW-1000 這是一種可以全自動測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設備。

日本katsura自準直儀角度高精度測量裝置 MS-2000 該設備非常適合評估和檢查智能手機和其他設備中安裝的具有傳感器移位圖像穩(wěn)定功能的相機模塊執(zhí)行器。 通過使用特殊的專用目標，可以高精度地同時測量目標物體的六項：傾斜（θX，θY）、位移（Z）、位置（X，Y）和旋轉(zhuǎn)（θ）。

nisshooptical狹縫圖像觀察深度高度測量機 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅(qū)動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

nisshooptical鹵素光源目視檢查測量儀日本 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅(qū)動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。