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日本nisshooptical半導體激光器測量裝置 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

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日本meidensha電化學測量裝置帶液晶監(jiān)視器 HZ-7000系列 HZ－7000 配置了液晶監(jiān)視器, 是具備存儲功能的小型, 高性能恒電位 / 恒電流測試儀。 以循環(huán)伏安法為中心, 可進行各種電化學測量。

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KETT谷粒測定儀判定器檢測糙米精密爆腰率 KETT/日本 RN-700 只需將糙米鋪在托盤上并插入即可確定外觀。 約40秒高速測定1000粒 使用三種成像處理和新開發(fā)的圖像引擎準確捕捉 除了谷物品質外，還測量谷物的數(shù)量、每粒谷物的長度、寬度和面積。

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