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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本rikenkeiki光學(xué)測量儀用于半導(dǎo)體材料等 AC-5/AC-3能夠使用平板開放式計(jì)數(shù)器對(duì)高達(dá) 4000 cps 的光電子進(jìn)行計(jì)數(shù)能夠安裝尺寸達(dá) 180 x 180 毫米的大型樣品任何位置都可以通過點(diǎn)測量進(jìn)行測量。使用樣品更換器 (*) 可自動(dòng)測量多達(dá) 25 個(gè)板狀或粉末狀樣品。通過使用Xe（氙）燈（*），可以高靈敏度地測量不易產(chǎn)生電子的
產(chǎn)品型號(hào)：AC-5/AC-3廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2025-05-06訪 問 量：366
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日本rikenkeiki光學(xué)測量儀用于半導(dǎo)體材料等 AC-5/AC-3 特點(diǎn)介紹
能夠使用平板開放式計(jì)數(shù)器對(duì)高達(dá) 4000 cps 的光電子進(jìn)行計(jì)數(shù)
能夠安裝尺寸達(dá) 180 x 180 毫米的大型樣品
任何位置都可以通過點(diǎn)測量進(jìn)行測量。
使用樣品更換器 (*) 可自動(dòng)測量多達(dá) 25 個(gè)板狀或粉末狀樣品。
通過使用Xe（氙）燈（*），可以高靈敏度地測量不易產(chǎn)生電子的
日本rikenkeiki光學(xué)測量儀用于半導(dǎo)體材料等 AC-5/AC-3 規(guī)格參數(shù)
有機(jī)EL和復(fù)制感光材料的電離勢(shì)測量
硬盤和磁帶摩擦學(xué)研究
半導(dǎo)體和引線框架表面氧化態(tài)的測量
精密電子材料中分子級(jí)薄膜污染檢測
測量以下功能材料的電離勢(shì)：
有機(jī)EL、有機(jī)太陽能電池、有機(jī)晶體管、復(fù)印感光材料、鈣鈦礦太陽能電池、量子點(diǎn)、碳納米材料、催化劑材料、蓄電池、燃料電池、半導(dǎo)體材料（Si、GaN） 、GaAs等）、透明導(dǎo)電膜（ITO、FTO等）
4000cps
光譜儀 光柵式單色儀
最大樣本量 面積180×180mm以下，厚度1±0.2mm以下
溫濕度范圍 溫度范圍15-35℃，濕度20-60%RH
電源 AC100V-240V
50/60Hz 5A (MAX)
*不包括控制電腦
外形尺寸 光源部分 LC-1：約 450(W) x 300(H) x 500(D)mm
測量部分 DC-1：約 600(W) x 380(H) x 500(D)mm
重量 光源部分 LC-1：約 35 kg
測量部分 DC-1：約 50 kg *不包括控制 PC
郵箱：akiyama_zhou@163.com
傳真：
地址：廣東省深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路8號(hào)和健云谷2棟10層1002
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