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日本Kiyohara干涉儀檢查儀便攜式可現(xiàn)場檢測 KNC-1 這是一款緊湊的牛頓檢查儀，任何人都可以在制造現(xiàn)場輕松檢查小型光學(xué)元件的表面。 是一款非常適合現(xiàn)場使用、性價(jià)比高、可隨身攜帶的測量工具。 可選擇連接干涉條紋分析裝置。
2024-06-15
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日本進(jìn)口Akion激光干涉儀6英寸測量玻璃金屬 AK-100ZF /AK-150ZF /AK-40ZF 非常適合測量玻璃、塑料、金屬等的平面形狀。 可以以 λ/20 的高精度測量和評估從小直徑到大直徑的拋光表面。
2024-06-15
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日本進(jìn)口Akion激光光學(xué)干涉條紋分析裝置 IFM 通過高精度分析量化干涉條紋 通過利用激光干涉儀觀察到的干涉條紋圖像，對拋光表面的表面精度和光學(xué)元件的透射波前精度進(jìn)行量化和可視化，從而獲得精度更高、更易于理解且有助于提高質(zhì)量控制的產(chǎn)品。
2024-06-15
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