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日本chuo電解鍍層厚度測(cè)量?jī)x可測(cè)量各種電鍍 TH-11 這是一種破壞性測(cè)量?jī)x器，可用于電鍍質(zhì)量控制等，并且可以測(cè)量各種電鍍類型。 電解鍍層厚度測(cè)量裝置 耐腐蝕性是通過測(cè)量多層鍍鎳電解過程中出現(xiàn)的各層之間的電化學(xué)電位差來確定的。

日本technomu精密測(cè)厚機(jī)非接觸式高精度測(cè)量 TTS2100/TTS3100 它使用光譜干涉激光位移計(jì)來高精度測(cè)量晶圓厚度。 可以單獨(dú)測(cè)量沉積在硅基底上的樹脂薄膜、PET等的厚度。 這是自動(dòng)判定作品合格與否的檢查機(jī)。

日本fujiwork無引線型薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)FT-D210NL/FT-D210NLT可以在無引線的情況下從薄膜邊緣連續(xù)測(cè)量厚度，由于采用頭部夾緊方式，因此可以兼容厚工件。測(cè)量范圍20μm至500μm (FT-D210NL)，500μm至3000μm (FT-D210NLT) 測(cè)量分辨率/0.1μm。

日本fujiwork無顯示薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī) FT-D200H FT-D200的高分辨率規(guī)格（測(cè)量分辨率0.01μm） 高分辨率0.01μm可實(shí)現(xiàn)超薄膜的高精度測(cè)量 測(cè)量范圍 10μm 至 500μm 測(cè)量分辨率/0.01μm