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日本NITTOSEIKO高阻電阻率計測量各種材料 MCP-HT800 Hiresta-UX 是一款測量電阻率的測量儀器，電阻率是材料的評估標(biāo)準(zhǔn)之一。 測量各種高阻材料的表面電阻率和體積電阻率對于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制和研發(fā)非常有用。 輕松準(zhǔn)確地測量材料的表面電阻率和體積電阻率，用于抗靜電材料研發(fā)、生產(chǎn)線質(zhì)量控制或材料。

日本KYORITSU接地電阻計快速響應(yīng)高速測量 KYORITSU/日本共立 KEW 4105DLBT-H 搭載藍(lán)牙®，可進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸業(yè)界最快的響應(yīng)速度，抗2秒的噪音！即使在輔助接地電阻較大環(huán)境中，也可以準(zhǔn)確地測量到25V接地電壓，且能夠一眼就判別接地電阻值的好壞的比較器功能AC/DC通過自動判別可測定至300V電壓測定實(shí)現(xiàn)10，000次連續(xù)測定，也對應(yīng)A～D種（3極法）的測定及簡易測定（2極法）

日本nissin-kikai近紅外光譜測量水分氯離子 IRS-N0917Q 二維傅立葉變換光譜成像 通過實(shí)現(xiàn)可持續(xù)的社會 以貢獻(xiàn)為目標(biāo) 比分散型等超一光譜力儀更 高感度·可獲取高分辨率的光譜數(shù)據(jù)。 比一般的傅立葉變換紅外分光度計（FTIR） 可同時獲取更廣泛的二維光譜數(shù)據(jù)。 不僅可以在實(shí)驗(yàn)室中使用，也可以帶到現(xiàn)場使用。

日本nissin-kikai中紅外光譜分析儀測量系統(tǒng) IRS-T0812Q 二維傅立葉變換光譜成像 通過實(shí)現(xiàn)可持續(xù)的社會 以貢獻(xiàn)為目標(biāo) 比分散型等超一光譜力儀更 高感度·可獲取高分辨率的光譜數(shù)據(jù)。 比一般的傅立葉變換紅外分光度計（FTIR） 可同時獲取更廣泛的二維光譜數(shù)據(jù)。 不僅可以在實(shí)驗(yàn)室中使用，也可以帶到現(xiàn)場使用。

日本理研rikenkeiki測量裝置有機(jī)電子材料用FAC-2介紹： 專用于光刻樣品的開爾文探針 輕松設(shè)置樣品，無需微調(diào)電極和樣品之間的距離 可在大氣中測量半導(dǎo)體樣品的費(fèi)米能級 由于測量時間短，因此非常適合測量隨時間變化的情況，例如成膜或表面處理后金屬表面的變化

日本rikenkeiki光學(xué)測量儀用于半導(dǎo)體材料等 AC-5/AC-3 能夠使用平板開放式計數(shù)器對高達(dá) 4000 cps 的光電子進(jìn)行計數(shù) 能夠安裝尺寸達(dá) 180 x 180 毫米的大型樣品 任何位置都可以通過點(diǎn)測量進(jìn)行測量。 使用樣品更換器 (*) 可自動測量多達(dá) 25 個板狀或粉末狀樣品。 通過使用Xe（氙）燈（*），可以高靈敏度地測量不易產(chǎn)生電子的

日本Riken Keiki高輸出光學(xué)系統(tǒng)高精度測量 AC-2S Pro α/AC-2S Pro β 配備超過2μW的高光輸出光學(xué)系統(tǒng) 配備可測量2eV以上的低能量照射光學(xué)系統(tǒng) 高溫測量可達(dá)100℃ 膜厚測量 以 0.01eV 步長進(jìn)行精確測量 配備高要求的多點(diǎn)測量和重復(fù)測量功能。 讀取AC-2、3、5數(shù)據(jù)后即可進(jìn)行分析

日本keycom磁性材料磁導(dǎo)率測量系統(tǒng)范圍寬廣 PER01 1. 無縫和廣泛的帶寬覆蓋 KEYCOM可以提供測量系統(tǒng)，帶寬無縫覆蓋從100kHz到30GHz。 2. 可測量的價值 此系統(tǒng)可在寬頻帶內(nèi)測量磁性材料的復(fù)合磁導(dǎo)率μr'-jμr“（其中，我們可提供20～30GHz的測量服務(wù)），半寬度ΔH，鐵磁共振松弛系數(shù)α（100MHz～10GHz）。